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發表時(shí)間:2023-05-16 17:52:55浏覽量:764【小中大(dà)】
芯片封裝測試是一種合格的(de)切割、焊接和(hé)塑料密封晶片,使芯片電路與外部設備電氣連接,爲芯片提供機械和(hé)物(wù)理(lǐ)保護,并使用(yòng)測試工具測試包裝芯片的(de)功能和(hé)性能。
其實IC測試已融入集成電路制造全過程,不僅單一IC包裝後進行。這(zhè)是因爲設計、制造甚至測試本身都緻芯片産品失效。如何保證設計芯片達到設計目的(de);如何使芯片達到所需産量;如何保證測試本身的(de)質量和(hé)有效性?……所有這(zhè)些都指向了(le)最重要的(de)要求——芯片測試方案在設計芯片時(shí)必須立即考慮。
在産品方面,深圳深艾華電子作爲批發廠商,爲了(le)滿足客戶不同的(de)封裝測試需求,提供完整的(de)封裝芯片socket測試座産品分(fēn)别提供現貨标準産品、加工定制、開模定制三種socket測試座産品解決方案,
半導體産業鏈包括芯片設計、晶圓制造、包裝試驗等環節,封裝測試是半導體生産過程中的(de)最後一道工序。“封裝”是指将芯片的(de)各個(gè)部件、部件等子系統粘貼、固定或連接到切割晶圓上,以獲得(de)功能完善的(de)獨立芯片的(de)加工工藝;“測試”是指将芯片的(de)引腳與測試機的(de)功能模塊連接起來(lái),通(tōng)過測試機輸入芯片信号,檢測芯片的(de)輸出信号,判斷芯片功能和(hé)性能指标的(de)有效性。
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