IC測試座主要就是用(yòng)於檢查在線的(de)單個(gè)IC元器件以及各電路網絡的(de)開、短路情況，俗稱導通(tōng)測試，以及模拟器件作用(yòng)和(hé)數字器件邏輯作用(yòng)測試。

測試期間在惡劣的(de)環境條件下(xià)能完全實現設計規格書(shū)所規定的(de)作用(yòng)及性能指标。是對(duì)在線元器件的(de)電性能及電氣連接進行測試來(lái)檢查生産制造缺陷及元器件不良的(de)一種标準測試設備。

芯片測試座
芯片socket測試座采用(yòng)手動翻蓋式結構、自動化(huà)下(xià)壓式結構、雙扣式壓合結構，操作方便；翻蓋的(de)上蓋IC壓闆采用(yòng)彈壓式結構，能自動調節下(xià)壓力，保證IC的(de)壓力均勻。

測試座探針的(de)特殊頭形突起能刺破焊接球的(de)氧化(huà)層，接觸可(kě)靠而不會損壞錫球。高(gāo)精度的(de)定位槽或導向孔，保證IC定位精确，生産效率高(gāo)探針可(kě)更換，維修方便，成本低。